1、X-R控制图运用管理和Cpk计算与分析处理SPC作业指导书编 制： 审 核： 批 准： 版 本 号: ESZAQDGF001 编 制： 审 核: 批 准： 发 布： 二XX年X月1 目的:提供控制图的使用准则及步骤,并且说明控制图的使用方法,以便在运用控制图时能够正确地决定、设置控制界限与进行控制图的判读。2 适用范围:X-R控制图的运用管理:Cpk的计算与分析处理.3 定义:3.1计量值特性凡产品的质量特性以实际测量方式取得的特性称为计量值特性,例如重量或长度等。3.2 计数值特性凡产品的质量特性以数一数的方式或简单判断取得的特性，称为计数值特性,例如不良品数,产品合格与不合格等。4 操作执2、行:4.1 控制图绘制、使用步骤4.1.1 第一次使用控制图的作业流程4.1.1.1决定须控制的特性；4.1.1.2搜集20组以上数据；4.1.1.3计算中心线(平均值)及控制上、下限；4.1.1.4绘制控制图；4.1.1.5检查是否有超出控制界限的点；4.1.1.6将这些超出控制界限的资料剔除，重新计算中心线(平均值)及控制上、下限；4.1.1.7决定控制图的中心线(平均值)及控制上、下限。4.1.2 现场使用控制图的作业程序4.1.2.1在规定的控制图表上画出控制图的中心线(平均值)及上、下限；4.1.2.2依规定的抽样频率及抽样数,并将所得资料记录于控制图上,且依所使用的控制图种类进行计3、算；4.1.2.3将计算结果点于控制图上。4.1.2.4控制图判读a.依控制图判读原则对控制图进行判读；b.若有异常时,则发出纠正与预防措施要求单，请职责单位调查原因并采取预防或纠正措施。4.1.2.5控制界限研讨a.当完成一张控制图时，根据控制图表上的资料每月重新计算中心线(平均值)及控制上、下限。计算时须剔除超出控制界限的资料；b.比较计算前后之中心线(平均值)及控制上、下限；c.若无重大差异时在规定的控制图表沿用计算前的控制中心线(平均值)及控制上、下限； d.若有明显的差异时，可在规定的控制图纸使用计算后的控制中心线(平均值)及控制上、下限。4.2 控制图判读原则判异准则：点子出界就判4、断异常，界内点排列不随机判断异常。4.2.1正常的控制图（符合以下各点之一认为处于正常状态）：4 连续25个点都在控制界限内；4 连续35个点子至多1个点子落在控制界限外4 连续100个点子至多2个点子落在控制界限外4.2.2 异常的控制图（符合以下各点之一认为处于异常状态）：4 有点在控制界限外或控制界限上4 连续3点中有2点在中心线同一侧的B区外（即A区内）4 连续5点中有4点在中心线同一侧的C区以外 连续6点递增或递减，即连成一串 连续8点在中心线两侧，但没有一点在C区中4.2.2.6 连续9点落在中心线同一侧 连续14点相邻点上下交替 连续15点在C区中心线上下，即全部在C区内注：判断5、时首先要观察点是否随机排列，若不是随机排列则判断为异常；中心线外依次为平均分为C、B、A区，即1、2、3区。4.3 -R控制图的使用方法4.3.1 先收集100个以上数据,依测定的先后顺序排列4.3.2 以4或4个数据为一组,分成约2024组4.3.3 将各组数据记入数据表栏位内。4.3.4 计算各组之平均值X4.3.5 计算各组的全距R(R=MAX-MIN)4.3.6 计算总平均 =（ 1+2+k）/K= i=1 i / K ( K为组数 )4.3.7 计算全距的平均 =(R1+R2+RK)/K=i=1Ri/K (K为组数)4.3.8 计算控制界限:控制图:中心线CL=,控制上限UCL= +6、A2 ,控制下限 LCL=- A2 R控制图:中心线CL= ,控制上限UCL=D4 ,控制下限LCL=D34.3.9 绘制中心线及控制界限，并将各点点入图中4.4过程能力综合指数Cpk计算4.4.1当一张X-R控制图点画完后，计算、，方法见5.3.6、5.3.7 规格中心值（过程均值）4.4.2 计算准确度： Ca= (-) / ( T/2) T：为公差(T=USL-LSL)4.4.3 计算标准偏差： = /d2 ( 当n=5时，d2=2.33 )4.4.4 计算精密度: Cp= T/64.4.5 计算Cpk=(1-|Ca|)*Cp，当规格公差为单边时，Cpk=Cp 过程稳定时 1.33Cpk1.674.5初始过程能力指数Ppk计算计算方法与Cpk计算方法相同，唯一的不同是用其定义。5 支持文件无6 支持表格X-R控制图 SW-QC-WI041-001CPK Report SW-QC-WI041-002